島津熒光光譜儀也就是X熒光光譜儀，它是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和探測器作同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度。可以據此進行定性分析和定量分析。波長色散型X射線熒光譜儀產生于上世紀50年代，由于可以對復雜體系進行多組分同時測定，受到關注，特別在地質部門，先后配置這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。

    不管任何分析儀器，分析技術是獲得正確結果的保證。分析技術貫穿于儀器應用的全過程。分析方法的選擇必須滿足儀器應用的需要。下面介紹下島津熒光光譜儀分析技術誤區：

    誤區1：標樣制備太麻煩，用無標樣法。

    島津熒光光譜儀分析法和其它大部分分析儀器一樣，是相對分析法。在X熒光光譜儀分析中，測得的X射線強度與相應元素濃度的對應關系*是建立在標準樣品的基礎之上的，必須制備足夠數量的標準樣品，標樣的質量直接決定了分析結果的可靠性。基本參數法等無標樣分析法一般是用于*未知樣品的初步分析的，所謂無標樣也只是不需要系列標準樣而已。只要得出數據，就得有一套相對的標準數據，所以，要更好的使X熒光光譜儀，得出更準確的分析結果，高質量的標準樣品是*的。

    誤區2：標準樣品可以購買別人的。

    很多人認為，標準樣品自己制備不好，還是買別人的好，其實，事實不是這樣，這是因為由于每個用戶的原料情況、配比是各不相同的，而對于X熒光光譜儀分析而言，標準樣與被測未知樣越相似，測定結果越好，因此為了取得好的分析結果，各用戶應自己配制標樣。標樣的配置應注意幾個問題：

    （1）必須主要用生產用原料配制，個別少量組份可用化學試劑；

    （2）標樣數目應大于被分析元素個數（至少多兩個）；

    （3）標樣中被測元素的含量范圍應*覆蓋未知樣品相應元素的濃度變化范圍；

    （4）標樣中各被測元素的濃度之間不應存在相關性。

    誤區3：工作曲線的評價。

    通常對工作曲線的定量評價標準主要是相關系數和標準偏差，從數學上來講，相關系數越接近1越好，標準偏差越小越好。但必須首先檢查是否符合物理意義，斜率大小是否合適。

    誤區4：基體校正中元素間影響因子的設定越多越好。

    如不考慮物理意義就數學結果而選擇影響因子，就無法保證未知樣分析的正確可靠。影響因子的設定應遵循相鄰元素、主元素、濃度變化范圍大的元素、重元素的原則，在此基礎上根據經驗試設。